|
|
|
|
|
|
|
|
手持式XRF矿石分析仪用于金矿探测的解决方案
奥林巴斯X射线荧光（XRF）矿石分析仪提供高性能的实时地球化学数据，用于土壤重金属，岩石成分和矿石品位和元素含量的分析。奥林巴斯X射线荧光（XRF）矿石分析仪技术的 进展增加了测量元素的数量，提高了检测限，并缩短了分析测试时间。
Vanta™XRF矿石分析仪可用于金矿的现场测试，金矿实验室测试和精制金矿产品的快速测量勘探。
优点：
1.通过XRF矿石元素分析仪分析土壤重金属，岩石和矿石中的元素，快速显示潜在的Au矿分布情况；
2.通过使用XRF矿石元素分析仪预筛选样品，优先样品选择，分析预算和选定钻孔目标；
3.通过XRF矿石元素分析仪绘制结构特征图，建模和矢量化，减少稀释和做好金矿的回收；
4.通过使用XRF矿石元素分析仪进行岩石地球化学的简单和快速岩石类型分析；
用于矿物勘探和矿体矢量的金分析和探测的便携式XRF矿石元素分析仪
| 矿产类型 |
地球化学特征 |
| 造山金 |
S, As, CO2, K+/– Sb, Te, Mo, W, Cu, Pb, Zn, Hg |
| 高硫化浅成热液 |
Ag, Cu, Te, Mo, Bi, Sn |
| 低硫化浅成低温热液 |
Zn, Hg, Se, K, As, Sb, Ag/Au |
| 卡林型 |
As, Sb, Hg, Tl |
| 斑岩铜金 |
Cu, Pb, Zn, Ag |
| Au Skarns |
Bi, Te, As, Co |
| 侵入性相关金 |
Bi, W, As, Sb, Mo, Te |
| VHMS |
Cu, Pb, Zn, Ag, Ba, K, Mg +/–CO2 |
| 氧化铁 Cu-Au (U) |
F, P, Co, Ni, As, Mo, Ag, Ba, U, LREE |
| 高纯度的金 |
高纯度的 Au +/– 以上任何一种 |
金矿床的相关地球化学特征
大多数金矿床都有特定的地球化学特征。XRF矿石元素分析仪分析仪可以检测这些地球化学特征，使地质学家能够更好地了解他们工作的地质系统。典型的金探测的伴随元素包括As，Cu，Pb，Zn，Sb，Bi，Ag和W.
采用Vanta VMR GeoChem模式的XRF矿石元素分析仪的检测下限：
*每束120秒的测试时间，无干扰的SiO2基质; 有关检测下限（LOD）的进一步讨论，请参阅广宇科技OLYMPUS LOD文档
用于检测金的XRF矿石元素分析仪分析仪
众所周知，手持式XRF矿石元素分析仪分析仪不支持在地质样品中直接低水平测量Au（例如，低ppm和ppb）。基于实验室的火试验技术通常被认为是Au分析的 方法。Au L级X射线位于X射线荧光能谱的非常拥挤的区域中。在该部分光谱中，来自其他元素（例如，As，Zn，W和Se）的干扰可以产生假阳性Au测定。
通过XRF矿石元素分析仪直接测量Au可以在特定情况下实现，例如高含量的（> 5ppm）石英脉环境（相对无干扰）或精制Au产品（其中Au以非常高的浓度存在）。
因此：越来越多的Au现场采矿实验室正在使用XRF矿石元素分析仪代替实验室的火试验技术。
|
|
|
|
|
|
