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手持式XRF礦石分析儀用於金礦探測的解決方案
奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀提供高性能的實時地球化學數據，用於土壤重金屬，岩石成分和礦石品位和元素含量的分析。奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀技術的 進展增加了測量元素的數量，提高了檢測限，並縮短了分析測試時間。
Vanta™XRF礦石分析儀可用於金礦的現場測試，金礦實驗室測試和精製金礦產品的快速測量勘探。
優點：
1.通過XRF礦石元素分析儀分析土壤重金屬，岩石和礦石中的元素，快速顯示潛在的Au礦分布情況；
2.通過使用XRF礦石元素分析儀預篩選樣品，優先樣品選擇，分析預算和選定鑽孔目標；
3.通過XRF礦石元素分析儀繪製結構特征圖，建模和矢量化，減少稀釋和做好金礦的回收；
4.通過使用XRF礦石元素分析儀進行岩石地球化學的簡單和快速岩石類型分析；
用於礦物勘探和礦體矢量的金分析和探測的便攜式XRF礦石元素分析儀
| 礦產類型 |
地球化學特征 |
| 造山金 |
S, As, CO2, K+/– Sb, Te, Mo, W, Cu, Pb, Zn, Hg |
| 高硫化淺成熱液 |
Ag, Cu, Te, Mo, Bi, Sn |
| 低硫化淺成低溫熱液 |
Zn, Hg, Se, K, As, Sb, Ag/Au |
| 卡林型 |
As, Sb, Hg, Tl |
| 斑岩銅金 |
Cu, Pb, Zn, Ag |
| Au Skarns |
Bi, Te, As, Co |
| 侵入性相關金 |
Bi, W, As, Sb, Mo, Te |
| VHMS |
Cu, Pb, Zn, Ag, Ba, K, Mg +/–CO2 |
| 氧化鐵 Cu-Au (U) |
F, P, Co, Ni, As, Mo, Ag, Ba, U, LREE |
| 高純度的金 |
高純度的 Au +/– 以上任何一種 |
金礦床的相關地球化學特征
大多數金礦床都有特定的地球化學特征。XRF礦石元素分析儀分析儀可以檢測這些地球化學特征，使地質學家能夠更好地了解他們工作的地質系統。典型的金探測的伴隨元素包括As，Cu，Pb，Zn，Sb，Bi，Ag和W.
採用Vanta VMR GeoChem模式的XRF礦石元素分析儀的檢測下限：
*每束120秒的測試時間，無干擾的SiO2基質; 有關檢測下限（LOD）的進一步討論，請參閱廣宇科技OLYMPUS LOD文檔
用於檢測金的XRF礦石元素分析儀分析儀
眾所週知，手持式XRF礦石元素分析儀分析儀不支持在地質樣品中直接低水平測量Au（例如，低ppm和ppb）。基於實驗室的火試驗技術通常被認為是Au分析的 方法。Au L級X射線位於X射線熒光能譜的非常擁擠的區域中。在該部分光譜中，來自其他元素（例如，As，Zn，W和Se）的干擾可以產生假陽性Au測定。
通過XRF礦石元素分析儀直接測量Au可以在特定情況下實現，例如高含量的（> 5ppm）石英脈環境（相對無干擾）或精製Au產品（其中Au以非常高的濃度存在）。
因此：越來越多的Au現場採礦實驗室正在使用XRF礦石元素分析儀代替實驗室的火試驗技術。
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